詳細介紹
X熒光涂層鍍層測厚儀
X熒光光譜儀作為一種先進的涂層鍍層測厚儀,在眾多工業領域中發揮著至關重要的作用,為產品質量控制提供了可靠的技術支持。
X熒光光譜儀基于X射線熒光分析原理。當高能X射線照射到涂層表面時,涂層中的元素原子受到激發,內層電子被擊出,產生電子空位。外層電子會躍遷填補該空位,同時釋放出具有特定能量的特征X射線熒光。通過探測和分析這些熒光的能量和強度,結合預先建立的校準曲線,就能精確計算出涂層中各元素的含量,進而確定涂層的厚度。
非破壞性檢測:這是X熒光光譜儀的一大突出特點。在測量過程中,無需對涂層進行取樣或破壞,能夠完整保留產品的原始狀態,特別適用于對珍貴樣品或成品的質量檢測,避免了因取樣而造成的產品損壞和浪費。
快速高效:儀器具備高速檢測能力,可在短時間內完成對涂層厚度的測量。無論是單點測量還是對大面積區域進行掃描測量,都能迅速給出準確結果,大大提高了檢測效率,滿足了現代化工業生產對快速檢測的需求。
多元素分析能力:不僅可以測量單一元素的涂層厚度,還能同時分析涂層中多種元素的含量和分布情況。這對于復雜涂層體系的研究和質量控制具有重要意義,能夠幫助用戶全面了解涂層的成分和性能。
操作簡便:X熒光光譜儀通常配備友好的用戶界面和智能化的操作軟件,操作人員無需具備深厚的專業知識和復雜的操作技能,經過簡單培訓即可上手操作。同時,儀器還具有自動校準、數據存儲和分析等功能,進一步簡化了檢測流程。
廣泛應用于電子、汽車、航空航天、五金制品等行業。在電子行業,用于檢測印刷電路板上的鍍層厚度,確保電路的性能和可靠性;在汽車制造中,對車身零部件的涂層厚度進行嚴格監控,提高汽車的耐腐蝕性和外觀質量。
以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細介紹:
鍍層檢測:
常見金屬鍍層有:
鍍層
基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內,
可最小測量達0.001um。
多層厚度范圍:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
鍍層層數為1-6層
鍍層精度相對差值一般<5%。
鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
鍍層分析優勢:分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm
單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
元素成分分析:
鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。
ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實現鍍層與環保一機多用。
金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。
檢測精度:
Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬
檢測限達1ppm。
對這些金屬測試分析穩定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:
A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于1%
B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于2%
C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于5%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%
測量精度:
1)精度(單層):
測厚儀的檢測精度表
Ni層厚度(um) | 精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
測試方法: 在相同的操作條件下,對同一標準樣板進行5次檢測,檢測到的平均數據與標樣板的實際數據作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差(平均誤差)
2)兩層及以上:
兩層及以上的首層精度符合單層的測試結果,但是第二層以上比較復雜,要根據上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時,一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報告 一層金標樣厚度0.101um,第二層鎳的標樣厚度為4.52um。
在 一層厚度在2~5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會在5~10%,第三層的誤差率小于15%。
重復性:
保證重復性值:≤±5%
重復性的檢測應在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續重復檢測,連續測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。
重復性=平均誤差÷平均值×100* %.
報告打印:
可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數據查詢方便
安全使用,維護與保養
由于儀器非常精密,未經允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。
儀器安裝一定要平穩,儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩情況要配備穩壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。
請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發生觸電。
進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。
儀器環境要求:儀器使用環境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度≤80%,電源:AC: 220V ±5V。
以上細節均有可能造成無法預測后果,買方應予以基本遵守。
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