電鍍膜厚測試設備

簡要描述：電鍍膜厚測試設備
光譜測量功能
- 定性分析功能（KLM 標記方法）
- 每個能量/通道元素ROI光標
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標度擴充、縮小功能（強度、能量）

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-07-29
訪問量：1905

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產(chǎn)品分類

Product classification

測厚儀

膜厚電鍍膜厚檢測儀電鍍分析儀電鍍層厚度測試儀

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詳細介紹

　　電鍍膜厚測試設備

　　以下介紹經(jīng)常使用的電鍍膜厚檢測設備：

　　產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

　　(一)產(chǎn)品優(yōu)勢

　　1. 鍍層檢測，檢測層數(shù)范圍1-5層；鍍層測量精度可達0.001μm。

　　2. 全自動操作平臺，平臺尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z)；

　　3. 激光定位和自動多點測量功能；

　　4. 檢測的樣品可以為固體、液體或粉末；

　　5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低；

　　6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性、半定量分析；

　　7. 操作簡單、精準無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速檢測(5-40秒依配置而定)；

　　(二)產(chǎn)品特征

　　勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

　　吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

　　線性模式進行薄膜鍍層厚度測量

　　相對(比)模式無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

　　多鍍層厚度同時測量

　　單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]

　　雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

　　三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

　　四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

　　合金鍍層應 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]

　　技術指標

　　多鍍層分析，1～5層；

　　測試精度：0.001 μm；

　　元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；

　　測量時間：10~30秒；

　　SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；

　　探測器Be窗0.5mil(12.7μm)；

　　微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶(高配微焦鉬靶)；

　　6個準直器及多個濾光片自動切換；

　　XYZ三維移動平臺，MAX荷載為5公斤；

　　高清CCD攝像頭(200萬像素)，準確監(jiān)控位置；

　　多變量非線性去卷積曲線擬合；

　　樣品臺移動范圍：前后左右各80mm、高度90mm。

　　1)、硬件參數(shù)：

　　1. X射線管：高穩(wěn)定性X射線管，使用壽命(工作時間>8,000小時)

　　微焦點x射線管

　　鈹窗口，光斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

　　50kV，1mA。高壓和管流設定為應用程序提供最佳性能。

　　2. 探測器：Si-Pin探測器

　　能量分辨率：149±5eV

　　3. 濾光片/可選

　　初級濾光片：Al濾光片，自動切換

　　多準直器：0.2,0.3,0.5mm可選

　　測試點大小：準直器面積的1.5倍

　　4. 平臺：軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y-Z軸移動大樣品平臺。

　　激光定位、簡易荷載最大負載量為5公斤

　　軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量

　　5. 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

　　6. 分析譜線：

　　- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

　　7.視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

　　- 觀察范圍：3mm x 3mm

　　- 放大倍數(shù)：40X

　　- 射線方向：上照式

　　- 軟件控制取得高真圖像

　　8. 檢測厚度(正常指標)：

　　- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 ～ 1000 微英寸

　　- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 ～ 1200 微英寸

　　- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 ～ 3000 微英寸

　　- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 ～ 500 微英寸

　　9. 計算機、打印機(贈送)

　　1) 含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標

　　2) 含Windows 7操作系統(tǒng)

　　3) Multi-Ray軟件

　　注：設備需要配備穩(wěn)壓電源，需另計。

　　2)、光譜儀軟件功能

　　1)軟件應用

　　基本參數(shù)法目前是鍍層領域最佳解決方案。

　　2) 軟件標定方法

　　自動標定曲線進行多層分析

　　- 使用無標樣基本參數(shù)計算方法

　　- 使用標樣進行多點重復標定

　　- 標定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能

　　3) 軟件校正功能：

　　- 基點校正(基線本底校正)

　　- 多材料基點校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等

　　- 密度校正

　　4) 軟件測量功能：

　　- 快速開始測量

　　- 快速測量過程

　　- 自動測量條件設定(光管電流，濾光片，ROI)

　　5) 自動測量功能(軟件平臺)

　　- 同模式重復功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)

　　- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)

　　- 測量開始點設定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))

　　- 測量開始點存儲功能、打印數(shù)據(jù)

　　- 旋轉(zhuǎn)校正功能

　　- TSP應用

　　- 行掃描及格柵功能

　　6) 光譜測量功能

　　- 定性分析功能 (KLM 標記方法)

　　- 每個能量/通道元素ROI光標

　　- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

　　- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法

　　- 標度擴充、縮小功能(強度、能量)

　　7) 數(shù)據(jù)處理功能

　　8)其他功能

　　- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

　　- 獨立操作控制平臺

　　9) 儀器維修和調(diào)整功能

　　- 自動校準功能；

　　- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境；

　　- 自動校準過程中值增加、偏置量、強度、探測器分辨率，迭代法取決于峰位置、CPS、主X射線強度、輸入電壓、操作環(huán)境。

　　國外客戶名單

Company 公司名稱	Note 備注
TE CONNECTIVITY	hyundai cooperate 現(xiàn)代合作公司
INNO FLEX	samsung cooperate三星合作公司
RAYTRON CO.,LTD	samsung cooperate 三星合作公司
KOREA ELECTRIC TERMINAL	samsung cooperate三星合作公司
SHINHWA CONTECH CO.,LTD	samsung cooperate 三星合作公司
KYOUNGIL	samsung cooperate 三星合作公司
KAVAS	samsung cooperate 三星合作公司
TAEKWANG ENS	samsung cooperate 三星合作公司
PULSE ELECTRONICS KOREA	samsung cooperate 三星合作公司
SIT CO.,LTD	samsung cooperate 三星合作公司
LUMENS CO.,LTD	samsung , LG cooperate三星、通用合作公司
JEONGMIN ELECTRIC CO.,LTD	LG cooperate 通用合作公司
HANSUNG COLOR CO.,LTD	LG cooperate 通用合作公司
HWANAM TECH CO.,LTD	LG cooperate通用合作公司
SAEBOK CO.,LTD	LG cooperate通用合作公司
HANSHIN TERMINAL CO., LTD	LG cooperate通用合作公司
JINTEC	LG OEM 通用合作公司
JuAhn	LG OEM 通用合作公司
MECHARONICS	LG OEM 通用合作公司

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