我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。

環(huán)保ROHS儀器

應(yīng)用領(lǐng)域：

1、鋼鐵行業(yè)：對(duì)生鐵、各類(lèi)鑄鐵、各類(lèi)合金鋼及爐渣、礦石、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、鐵精粉、

鐵礦石除碳（C）以外的各種元素成份分析。

2、 耐火材料及水泥行業(yè)的分析：各類(lèi)耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。

3、有色行業(yè)：對(duì)鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份

分析。

4、質(zhì)檢部門(mén)： ROSH 指令中的Pb，Cd ，Cr，Hg，Br 及氯素各種等成份分析。

5、 鍍層測(cè)厚：可對(duì)金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進(jìn)行準(zhǔn)確無(wú)損測(cè)量。

儀器特點(diǎn)

1、采用DPP 數(shù)字脈沖成型技術(shù)，計(jì)數(shù)率，無(wú)漏計(jì)，穩(wěn)定性好；

2、采用X光管激發(fā)樣品，一次激發(fā)全部待測(cè)元素，韌致輻射型，Be(鈹)窗厚50μm，靶材Ag(銀靶)，功耗低、壽命長(zhǎng)，對(duì)輕重元素均有較的激發(fā)效率；

3、 采用世界上的電致冷SDD 半導(dǎo)體探測(cè)器，分辨率，達(dá)到130ev，無(wú)需液氮制冷，使用方便，可以一次性完成對(duì)多種元素的探測(cè)；

4、壓電源：電壓0V-50kV 連續(xù)可調(diào)；電流0-2mA 連續(xù)可調(diào)，精度，*操作；

5、 真空環(huán)境測(cè)量，提了輕元素的激發(fā)效率和測(cè)量范圍；

6、2048 道多道譜儀實(shí)時(shí)測(cè)量顯示，對(duì)樣品X 光譜進(jìn)行精細(xì)分析，系統(tǒng)可自動(dòng)識(shí)別譜線，方便了解樣品的組成；

7、 自動(dòng)尋峰，消除譜峰漂移影響，確保儀器長(zhǎng)期穩(wěn)定；

8、全中文Windows 應(yīng)用軟件，操作簡(jiǎn)單。專(zhuān)業(yè)的分析軟件，可以實(shí)現(xiàn)模式識(shí)別，自動(dòng)分類(lèi)，開(kāi)放式軟件系統(tǒng)，用戶可以根據(jù)自身需要建立庫(kù)文件；

9、融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、的背景扣除方法、自動(dòng)尋峰和Quasi-Newton(準(zhǔn)牛頓)優(yōu)化算法等；

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

、快速、無(wú)損、直觀、環(huán)保；

：測(cè)試結(jié)果可以接近濕化學(xué)方法測(cè)試；

快速：分析樣品中的幾十個(gè)元素只需幾分鐘；

無(wú)損：不會(huì)破壞被分析樣品的物理和化學(xué)特性；

直觀：分析結(jié)果以圖表方式直接呈現(xiàn)；

環(huán)保：不會(huì)對(duì)環(huán)境產(chǎn)生污染破壞；

四、主要技術(shù)指標(biāo)

1、分析元素：Na-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等。

2、分析范圍：1ppm-99.99%。

4、同時(shí)分析：30種元素同時(shí)分析.

5、能量范圍：1-50keV.

6、測(cè)量時(shí)間：1-2 分鐘可以完成全部待測(cè)元素的含量分析.

7、進(jìn)口電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器的分辨率：130ev.

8、 管電壓：0-50Kv 管電流： 1～2000 μA.

9、儀器的分析精度：標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.08%.

10、分析誤差：優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)要求.

11、輻射劑量：<25μsv/h.

12、環(huán)境溫度要求：15℃-35℃

14、工作電源：交流220±10%、50、60Hz

主要配置

1、探測(cè)系統(tǒng)

1、探測(cè)器

類(lèi)型：電制冷SDD探測(cè)器

Be窗厚度：50um

佳分辨率：130eV

能量響應(yīng)范圍：1keV-50keV

2、X光管（用于X射線能譜儀）

電壓：0～50kV

電流：1.0mA

功率：50W

燈絲電壓：2.0V

燈絲電流：1.7A

射線取出角：12°

靶材：Mo

Be窗厚度：0.5mm

3、壓電源

電壓范圍：0-50kV連續(xù)可調(diào)，采用數(shù)字顯示

輸入電壓：DC+24V±10%

輸入電流：4.0A()

輸出電壓：0-5KV & 1mA

功率：50W

電壓調(diào)整率：0.01%(從空載到滿載)

電流調(diào)整率：0.01%(從空載到滿載)

紋波系數(shù)：0.1%(P-P值)

8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%

4、真空泵

真空度：真空測(cè)試20Pa極限真空2Pa

5、全光路集成設(shè)計(jì)/射線防護(hù)系統(tǒng)/真空腔體

X 光管、探測(cè)器、復(fù)合濾光處理系統(tǒng)、CCD、定位系統(tǒng)、全自動(dòng)準(zhǔn)直器切換系統(tǒng)等光路處理器件均集成在密閉的結(jié)構(gòu)中，確保光路系統(tǒng)的穩(wěn)定性與密閉性作為

真空光路系統(tǒng)的腔體，通過(guò)環(huán)路和迷宮方式有效的利用X 射線的能量，同時(shí)保證了射線的零溢出。

6、全自動(dòng)復(fù)合濾光切換系統(tǒng)

合理的8種復(fù)合濾光片的組合和自動(dòng)切換系統(tǒng)，以及二次濾光片的升級(jí)空間，既可以降低來(lái)自原級(jí)X射線干擾的影響，提被測(cè)元素的靈敏度和測(cè)試精度。

7、多口徑準(zhǔn)直器自動(dòng)切換系統(tǒng)

φ1mm，φ3mm，φ5mm，φ18mm四種口徑準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換；

保證了各類(lèi)樣品的測(cè)試便利。

8、攝像系統(tǒng)

500萬(wàn)像素分辨率CCD；

32位真彩色，生動(dòng)顯示射線照射位置；

配合小口徑準(zhǔn)直器可實(shí)現(xiàn)的定點(diǎn)測(cè)量；

特別配置的背景燈，保證了測(cè)試物質(zhì)的圖像清晰。

9、照射區(qū)控制系統(tǒng)

可調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng)，可以清晰的知道測(cè)試樣品的部位，配合用鼠標(biāo)對(duì)樣品位置的移動(dòng)，準(zhǔn)確的判斷測(cè)試樣品的全部信息。

     開(kāi)放性工作曲線

用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況，建立風(fēng)險(xiǎn)材料的工作曲線，全面提工作曲線與被測(cè)材料的對(duì)應(yīng)性。從而大幅度提升風(fēng)險(xiǎn)物質(zhì)的檢測(cè)精度。

分析時(shí)間

可根據(jù)樣品種類(lèi)設(shè)置不同的檢測(cè)時(shí)間，并可根據(jù)樣品大小自動(dòng)調(diào)節(jié)檢測(cè)時(shí)間以保證所需檢測(cè)精度。

環(huán)保ROHS儀器