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產品分類
Product classification詳細介紹
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。
檢測玻璃元素成分儀器設備
產品說明
標準配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析，是大中型企業質量控制的理想選擇。
針對需求滿足的解決方案
建筑材料/水泥
耐火材料/陶瓷
冶金礦產/采礦
金屬材料
學術研究、教學
玻璃、石墨
土壤調查/元素分析
工藝控制
成分質量控制
成分檢測
檢驗設備
成分指令控制
產品特點
1.1分鐘即可完成準確測試，換樣抽真空時間小于15秒
2.下照式X射線檢測，*避免樣品破碎造成的儀器故障，提使用效率
3.采用精度流氣密度穩定器(技術)
4.標準配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析
5.引入測試系統技術、測試的短期和長期穩定性。
6.配備經驗系數法、理論影響系數法、基本參數法等定量分析方法
7.測試精度遠優于GB/T176-2008對重現性的要求，輕松滿足行業需求
產品功能
具有遠程診斷功能說明:我們軟件集成了常用的DCS系統的通訊協議，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可與工廠的配料系統的控制中心或PLC進行數據交換，即可向配料系統傳送分析數據，也可傳送配比數據。實現在線數據分析、在線質量監控。
具有技術的，快速，安全，性能可靠而實用的樣品裝卸系統
搖臂式設計的樣品裝卸系統，完善的粉末保護方式，預真空室和限定位置機構，實現度重現性，**，快速穩定。光路設計示意圖，
XRF色散方法是建立在X射線波動性基礎上，依據布拉格定律（2dsinθ=nλ）對樣品發射出的特征X射線及原級譜線的散射線進行分光，再將待測元素的特征X射線與基體中某些元素的次線射入探測器并將光信號轉換為電信號，經放大后，再通過模數轉換（ADC）將電信號轉換為數字信號，然后由脈沖度分析器篩除次線、晶體熒光等，通過數據處理將特征X射線強度轉換為濃度。
連續72小時檢測Ca:Ka譜線的強度，達到Q<1.1，Si:Ka譜線的強度，達到Q<1.05, 其他譜線輕易就可達到Q<1.02，
連續72小時檢測Ca:Ka譜線的強度，達到Q<1.1，Si:Ka譜線的強度，達到Q<1.05, 其他譜線輕易就可達到Q<1.02，熒光強度的穩定性(包括短期穩定性和長期穩定性)極其。使儀器的校驗周期延長到每周一次。加上采用進口瓦里安X光管（76um,400W薄皮窗）和進口壓電源（60kV，10mA），使產品的穩定性達到行業水平。
儀器采用WdxAnalyzer V1工作站，人機對話的軟件界面、模塊化的操作按鈕，不同權限的操作員憑密碼登陸、輸出報告可選多種模式等特點。
性能指標
典型白生料樣品的實測分析精度（60S），于GB/T176-2008對重現性的要求。 | |||||||||
氧化物 | SiO2 | Al2O3 | Fe2O3 | CaO | MgO | Na2O | K2O | SO3 | Clˉ |
分析譜線 | Si:Ka | Al:Ka | Fe:Ka | Ca:Ka | Mg:Ka | Na:Ka | K:Ka | S:Ka | Cl:Ka |
□n-1≤ | 0.03 | 0.02 | 0.01 | 0.035 | 0.02 | 0.02 | 0.01 | 0.01 | 0.0007 |
重現性(%) | 0.10 | 0.06 | 0.05 | 0.15 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.002 |
GB/T176-2008 對重現性的要求（%） | 0.20 | 0.2 | 0.15 | 0.25 | 0.15 | 0.05 | 0.15 | 0.15 | 0.00 |
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