【基礎知識】什么是X射線熒光光譜法？

更新時間：2021-05-14 點擊次數(shù)：2568

　　相比其他分析技術，XRF具有許多優(yōu)勢。其速度較快。能夠測量多種類型的元素及其在不同類型材料中的含量濃度。此外，其屬于非破壞性技術，僅需制備少量樣品甚至*不需要制備樣品，因此，其相比其他技術成本較低。這也就是為什么全球這么多人選擇使用XRF技術進行日常的材料分析工作。

　　一臺典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。

　　然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素(F)到92號元素(U)。

　　1、X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經(jīng)過二十多年的探索以后，現(xiàn)在已*成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域。

　　2、每個元素的特征X射線的強度除與激發(fā)源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。

　　3、根據(jù)各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。

　　X射線熒光分析儀的優(yōu)點：

　　對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。

　　測試速率高，可以在較少時間內(nèi)進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網(wǎng)輸出。

　　分析速度較快。

　　對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。

　　不需要專業(yè)實驗室與操作人員，不引入其它對環(huán)境有害的物質(zhì)。

　　X射線熒光分析儀的缺點：

　　關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數(shù)法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現(xiàn)誤差。

　　不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據(jù)，不能區(qū)分元素價態(tài)。